德國(guó)FISCHER測(cè)厚儀 電磁感應(yīng)/袖珍式涂層測(cè)厚儀 :德國(guó)FISCHER公司作為***大**涂鍍層測(cè)厚儀及材料分析儀生產(chǎn)廠商之一，在積累了長(zhǎng)達(dá)60多年客戶服務(wù)經(jīng)驗(yàn)的基礎(chǔ)上，F(xiàn)ischer測(cè)厚儀對(duì)目前存在的幾乎每一種涂鍍層應(yīng)用都能提供良好的解決方案。FISCHER公司提供了多種不同的便攜式儀器，可以滿足每個(gè)客戶的需。 遵循DIN EN ISO 2360和ASTM B244標(biāo)準(zhǔn)中的渦流法，測(cè)量非鐵金屬上的不導(dǎo)電層厚度。一個(gè)特殊的應(yīng)用就是測(cè)量銅上的薄鉻層厚度。Elster氣相色譜分析儀

德國(guó)FISCHER測(cè)厚儀 臺(tái)式涂層測(cè)厚儀

德國(guó)FISCHER測(cè)厚儀 臺(tái)式涂層測(cè)厚儀

 

德國(guó)菲希爾公司主要產(chǎn)品有：Fischer渦流測(cè)厚儀；電磁感應(yīng)測(cè)厚儀；庫(kù)侖測(cè)厚儀；X射線測(cè)厚儀；β射線測(cè)厚儀；線路板金屬化孔測(cè)試儀；以及電導(dǎo)率、鐵素體含量材料分析儀和表面微硬度測(cè)試儀等。

 

德國(guó)菲希爾DUALSCOPE FMP40涂層測(cè)厚儀是一款操作簡(jiǎn)便的鍍層厚度測(cè)量和靈活的數(shù)據(jù)采集設(shè)備。DUALSCOPE FMP40膜厚儀存儲(chǔ)容量多達(dá)1,000數(shù)據(jù)組的10,000個(gè)測(cè)量數(shù)據(jù)，帶動(dòng)態(tài)存儲(chǔ)分配能力。100個(gè)測(cè)量應(yīng)用的內(nèi)存可用于存儲(chǔ)校準(zhǔn)和相關(guān)的測(cè)量數(shù)據(jù)。Fischer DUALSCOPE FMP40涂層測(cè)厚儀使用Fischer的智慧型測(cè)量探頭ED10，F(xiàn)MP40膜厚儀會(huì)自動(dòng)檢測(cè)出基體的材料并應(yīng)用合適的測(cè)試方法：渦流法或電磁感應(yīng)法 。能自動(dòng)識(shí)別不同的探頭。應(yīng)用程式特定的校準(zhǔn)參數(shù)儲(chǔ)存在測(cè)量探頭中，因此儀器一旦連接了任何探頭都能立即進(jìn)行測(cè)量。Fischer DUALSCOPE FMP40涂層測(cè)厚儀采用根據(jù)DIN EN ISO 2360，ASTM B244標(biāo)準(zhǔn)的電渦流方法和DIN EN ISO 2178，ASTM B499電磁感應(yīng)方法。理想的適合于測(cè)量：

非鐵金屬鍍層（例如：鉻，銅，鋅等）在鐵或鋼上。

油漆、臘克和合成涂層在在鐵或鋼上。

非導(dǎo)電涂層在非鐵金屬基材上，例如油漆、臘克和合成涂層在鋁、銅、黃銅、鋅和不銹鋼上。

鋁的陽(yáng)*氧化層。

一步測(cè)量鋼材上鍍鋅再鍍油漆的鍍層系統(tǒng)（雙鍍層）中各自的厚度。

德國(guó)Fischer DUALSCOPE FMP40膜厚計(jì)配備有一個(gè)獨(dú)特的和便于讀取的60 x 30 mm （2.4' x 1.2'）液晶顯示器。大量顯示的信息使得操作異常簡(jiǎn)便，包括單個(gè)測(cè)量讀數(shù)，測(cè)量次數(shù)，應(yīng)用程式號(hào)，組號(hào)，統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)，Cp和 Cpk，產(chǎn)品規(guī)格限制超出，日期，時(shí)間，以及顯示操作模式和設(shè)置的圖標(biāo)和符號(hào)，2行文本各16個(gè)字母或可自由選擇的符號(hào)以用于顯示數(shù)據(jù)和操作員提示。其它特性還包括RS232雙向通訊的打印機(jī)和PC電腦的連接，聲音提示信號(hào)，電池或交流供電，以及節(jié)電的測(cè)量后4分鐘自動(dòng)關(guān)機(jī)。

德國(guó)FISCHER測(cè)厚儀 袖珍式涂層測(cè)厚儀

德國(guó)FISCHER測(cè)厚儀 袖珍式涂層測(cè)厚儀

 

Fischer DELTASCOPE FMP10涂層測(cè)厚儀采用根據(jù)DIN EN ISO 2178, ASTM B499標(biāo)準(zhǔn)的電磁感應(yīng)方法。Fischer DELTASCOPE FMP10涂層測(cè)厚儀適用于測(cè)量：非鐵金屬鍍層（例如：鉻，銅，鋅等）在鋼和鐵上，油漆，臘克和合成涂層在鋼和鐵上德國(guó)菲希爾DELTASCOPE FMP10測(cè)厚儀在各種幾何外形和鍍層厚度范圍的測(cè)試工件上測(cè)量的情況下。配有不同種類(lèi)的探頭以適應(yīng)各種應(yīng)用情況。探頭自動(dòng)識(shí)別。德國(guó)FISCHER DELTASCOPE FMP10膜厚儀應(yīng)用程式特定的校準(zhǔn)參數(shù)儲(chǔ)存在測(cè)量探頭中，因此儀器一旦連接了任何探頭都能立即進(jìn)行測(cè)量。

Fischer DELTASCOPE FMP10涂層測(cè)厚儀配備有一個(gè)獨(dú)特的和便于讀取的 60 x 30 mm (2.4' x 1.2'))液晶顯示器。大量顯示的信息使得操作異常簡(jiǎn)便，包括單個(gè)測(cè)量讀數(shù)，測(cè)量次數(shù)，以及顯示操作模式和設(shè)置的圖標(biāo)和符號(hào)，2行文本各16個(gè)字母或可自由選擇的符號(hào)用于顯示數(shù)據(jù)和操作員提示 HELMUT FISCHER公司提供了多種不同的便攜式儀器，可以滿足每個(gè)客戶的需求。

涂層測(cè)厚儀DELTASCOPE FMP10遵循DIN EN ISO 2178和ASTM B499標(biāo)準(zhǔn)中的磁感應(yīng)方法，測(cè)量鋼上的非鐵金屬鍍層（例如，鉻，銅，鋅等）和塑料涂層。

 

德國(guó)Fischer ISOSCOPE FMP30膜厚儀具有打印柱狀圖，正態(tài)分布圖表，以及Cp和 Cpk指標(biāo)的功能。自動(dòng)的求平均功能降低了測(cè)量數(shù)據(jù)范圍內(nèi)的表面粗糙度影響。探頭自動(dòng)識(shí)別。應(yīng)用程式特定的校準(zhǔn)參數(shù)儲(chǔ)存在測(cè)量探頭中，因此儀器一旦連接了任何探頭都能立即進(jìn)行測(cè)量。FISCHER ISOSCOPE FMP30涂層測(cè)厚儀功能特點(diǎn)：ISOSCOPE FMP30膜厚計(jì)具有打印柱狀圖，正態(tài)分布圖表，以及Cp和 Cpk指標(biāo)的功能。自動(dòng)的求平均功能降低了測(cè)量數(shù)據(jù)范圍內(nèi)的表面粗糙度影響。探頭自動(dòng)識(shí)別。應(yīng)用程式特定的校準(zhǔn)參數(shù)儲(chǔ)存在測(cè)量探頭中，因此儀器一旦連接了任何探頭都能立即進(jìn)行測(cè)量。FISCHER ISOSCOPE FMP30涂層測(cè)厚儀采用根據(jù)DIN EN ISO 2360, ASTM B244標(biāo)準(zhǔn)的電渦流方法，適用于測(cè)量非導(dǎo)電涂層在非鐵金屬基材上，例如：油漆、臘克和合成涂層在鋁、銅、黃銅、鋅和不銹鋼上，鋁的陽(yáng)*氧化層（非鐵基材）。

FISCHER ISOSCOPE FMP30涂層測(cè)厚儀適合于需要一款獨(dú)立的電渦流儀器帶全部測(cè)量數(shù)據(jù)存儲(chǔ)，輸出和打印功能的使用者。能存儲(chǔ)多達(dá)100個(gè)應(yīng)用程式中1,000個(gè)數(shù)據(jù)組中的10,000個(gè)測(cè)量數(shù)據(jù)。FISCHER ISOSCOPE FMP30涂層測(cè)厚儀配備有一個(gè)獨(dú)特的和便于讀取的60 x 30 mm (2.4" x 1.2")液晶顯示器。大量顯示的信息使得操作異常簡(jiǎn)便，包括單個(gè)測(cè)量讀數(shù)，測(cè)量次數(shù)，應(yīng)用程式號(hào)，組號(hào)，統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)，Cp和 Cpk，產(chǎn)品規(guī)格限制超出，日期，時(shí)間，以及顯示操作模式和設(shè)置的圖標(biāo)和符號(hào)，2行文本各16個(gè)字母或可自由選擇的符號(hào)以用于顯示數(shù)據(jù)和操作員提示。

德國(guó)FISCHER測(cè)厚儀 袖珍式涂層測(cè)厚儀

德國(guó)FISCHER測(cè)厚儀 袖珍式涂層測(cè)厚儀

 

袖珍式涂鍍層測(cè)厚儀袖珍式儀器，簡(jiǎn)便、快速、無(wú)損地在幾乎所有金屬上或只在鐵/鋼上測(cè)量涂層厚度

Fischer袖珍式涂鍍層測(cè)厚儀產(chǎn)品特點(diǎn)

§ 儀器集成了探頭，便于操作

§ 出色的重復(fù)精度

§ 受基材透磁率、電導(dǎo)率和幾何形狀（曲率和厚度等）影響小

§ 享有**的電導(dǎo)率補(bǔ)償技術(shù)（電渦流方法）

§ 快速的單手操作：將儀器放置于工件上即可看到測(cè)量讀數(shù)

§ 兩個(gè)背光液晶顯示屏，便于從各個(gè)角度讀取測(cè)量值，甚至可從儀器頂部讀取讀數(shù)

§ 耐用的探頭和堅(jiān)固的外殼

§ 記錄測(cè)量值時(shí)可以發(fā)出聲音和視覺(jué)的信號(hào)

典型應(yīng)用領(lǐng)域

§ 油漆，例如汽車(chē)車(chē)身上的油漆

§ 防腐蝕鍍層

§ 建筑物維護(hù)

Fischer主要產(chǎn)品系列和型號(hào)：PERMASCOPE® MP0、DUALSCOPE® MP0、PERMASCOPE® MP0R、ISOSCOPE® MP0R、DUALSCOPE® MP0R、PERMASCOPE® MP0R-FP、DUALSCOPE® MP0R-FP、DUALSCOPE® MP0RH-FP

臺(tái)式設(shè)備，用于通常的涂層厚度測(cè)量和材料：FISCHERSCOPE® MMS® PC2

 

軟件：FISCHER DataCenter用于評(píng)估和保存測(cè)量值的軟件，用于確保質(zhì)量的檢測(cè)圖軟件

手持式涂鍍層測(cè)厚儀

標(biāo)準(zhǔn)手持設(shè)備，用于對(duì)幾乎所有金屬上的涂層進(jìn)行非破壞性厚度測(cè)量

DELTASCOPE® FMP10、ISOSCOPE® FMP10、DUALSCOPE® FMP20、DELTASCOPE® FMP30、ISOSCOPE® FMP30、DUALSCOPE® FMP40、DUALSCOPE® FMP100、DUALSCOPE® FMP150

PHASCOPE® PMP10

PHASCOPE® PMP10 DUPLEX

高精度探頭

備件：校準(zhǔn)器標(biāo)準(zhǔn)，三角架，試樣支架等

 

ISCHERSCOPE® X-RAY 型 X 射線熒光測(cè)量系統(tǒng)整體方案  

  FISCHERSCOPE® XUL®

穩(wěn)定和低成本的X射線熒光測(cè)量?jī)x，用于非破壞性的金屬分析和涂層厚度測(cè)量

  FISCHERSCOPE® XULM®

X射線熒光測(cè)量?jī)x，用于對(duì)小部件進(jìn)行非破壞性的材料分析和涂鍍層厚度測(cè)量

  FISCHERSCOPE® XAN® 120

X 射線熒光測(cè)試儀，用于快速、非破壞性的對(duì)黃金和銀合金進(jìn)行分析

  FISCHERSCOPE® XAN® 220

用于快速無(wú)損分析黃金和銀合金的 X 射線熒光測(cè)量設(shè)備

  FISCHERSCOPE® XAN® 250

滿足無(wú)損材料分析和涂層厚度測(cè)量*高要求的通用型X射線熒光測(cè)量設(shè)備

  FISCHERSCOPE® XDL®

X 射線熒光測(cè)量?jī)x，用于對(duì)功能性涂層、防腐蝕涂層和批量生產(chǎn)的零件進(jìn)行手動(dòng)或自動(dòng)涂層厚度測(cè)

  FISCHERSCOPE® XDLM®

X射線熒光測(cè)試儀，用于對(duì)電路板、電子元件和批量零件的涂層厚度進(jìn)行手動(dòng)或自動(dòng)測(cè)量，也適用于小型結(jié)構(gòu)

  FISCHERSCOPE® XDAL®

X 射線熒光測(cè)量?jī)x帶有可編程的 X/Y臺(tái)和Z軸，用于自動(dòng)測(cè)量涂鍍層厚度和材料分析

  FISCHERSCOPE® XDV®-SDD

滿足高要求的 X 射線熒光測(cè)試儀，帶有可編程的 X/Y 工作臺(tái)和 Z 軸，用于自動(dòng)測(cè)量*薄的涂層和進(jìn)行印痕分析

  FISCHERSCOPE® XDV®-µ

帶有毛細(xì)管X 光透鏡的 X 射線熒光測(cè)量?jī)x，用于在小零件和結(jié)構(gòu)上自動(dòng)測(cè)量并分析涂層厚度及涂層成分

  FISCHERSCOPE® XUV® 773

X 射線熒光測(cè)試儀帶有真空室，通用型**設(shè)備測(cè)量具有**的測(cè)量能力

  FISCHERSCOPE® X-RAY-4000

X 射線熒光測(cè)量系統(tǒng)，用于在光滑的和壓印的（包括帶有鑄模接觸面）帶鋼生產(chǎn)工藝中進(jìn)行連續(xù)的在線測(cè)量和分析

  FISCHERSCOPE® X-RAY-5000

X 射線熒光測(cè)量系統(tǒng)，用于在生產(chǎn)工藝中對(duì)較薄的鍍層如 CIGS、CIS 或 CdTe 進(jìn)行連續(xù)的在線測(cè)量和分析

  校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)

校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn) FISCHERSCOPE® X-RAY 型 X 射線熒光測(cè)量系統(tǒng)的軟件

  WinFTM® 軟件®

適用于所有 FISCHERSCOPE® X-RAY 型X 射線熒光測(cè)量系統(tǒng)的軟件

  備件

X-RAY 產(chǎn)品備件

用于庫(kù)侖電量分析的涂層厚

    度測(cè)量設(shè)備

  COULOSCOPE® CMS

臺(tái)式設(shè)備，用于金屬或非金屬基材、單層和多涂層系統(tǒng)上所有金屬涂層的庫(kù)侖電量涂鍍層厚度測(cè)量

  COULOSCOPE® CMS STEP

臺(tái)式設(shè)備，用于對(duì)金屬或非金屬基材上幾乎所有金屬涂層的厚度進(jìn)行庫(kù)侖電量測(cè)量，可以測(cè)量單層和多層系統(tǒng)和多層系統(tǒng)的