EIGER X混合像素光子計(jì)數(shù)X射線探測(cè)器?
維修EIGERX射線探測(cè)器
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1、產(chǎn)品特點(diǎn):
我們一直持續(xù)致力于不斷的探索研究去突破技術(shù)壁壘,以獲得更為**的測(cè)試過程及測(cè)試裝置,使測(cè)試性能趨于**。目前我們?cè)谕絻x器及科學(xué)研究領(lǐng)域所取得的巨大成就已充分證明了這一點(diǎn)。
新型的EIGER X 系列探測(cè)器可以為要求*為苛刻的同步應(yīng)用提供的探測(cè)性能。具有連續(xù)讀數(shù)能力的千赫茲幀速率的成像能力為時(shí)分類實(shí)驗(yàn)和XPCS提供了一種全新的手段,使得像ptychography類的慢速掃描成像技術(shù)成為可能。高分辨率和連續(xù)的衍射實(shí)驗(yàn)受益于較小的成像尺寸,通過X射線的直接轉(zhuǎn)換可以獲得**的點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)。在理想情況下每單元面積的計(jì)數(shù)速率可以與持續(xù)增加的波速線亮度相匹配。
2、核心**:
- 混合成像計(jì)數(shù):?jiǎn)喂庾映上裼?jì)數(shù)模式下的X射線直接轉(zhuǎn)換能力
- 千赫幀速率工作周期> 99%
- 3μs時(shí)間下的連續(xù)采集模式
- 5μm像素尺寸的高空間分辨率
- 良好的點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)
- 計(jì)數(shù)器每平方毫米每秒5億張
- 無(wú)讀出噪聲和暗電流
- *其緊湊的外殼
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3、應(yīng)用領(lǐng)域:
-X射線光子相關(guān)光譜(XPCS)
- Ptychography(疊層衍射)成像技術(shù)
- 時(shí)間分辨實(shí)驗(yàn)
- 大分子晶體學(xué)(MX)
- 單晶衍射(SCD)
- 粉末衍射(PD)
- 表面衍射
- 小廣角/X光散射(粉煤灰/蠟)
- X射線成像
4、技術(shù)參數(shù):EIGER X混合像素光子計(jì)數(shù)X射線探測(cè)器
EIGER X |
500K |
1M |
4M |
9M |
16M |
探測(cè)器模塊數(shù)量 |
1 |
1 x 2 |
2 x 4 |
3 x 6 |
4 x 8 |
有效面積:寬x高 [mm2] |
77.2 x 38.6 |
77.2 X 79.9 |
155.2 x 162.5 |
233.2 x 245.2 |
311.2 x 327.8 |
像素大小 [μm2] |
75 x 75 |
||||
總像素?cái)?shù)量 |
1030x514= 529,420 |
1030x1065= 1,096,950 |
2070 x 2167= 4,485,690 |
3110 x 3269= 10,166,590 |
4150X4371= 18,139,650 |
間隙寬度, 水平/垂直(像素) |
-/- |
-/37 |
10 / 37 |
10 / 37 |
10 / 37 |
非靈敏區(qū) [ *] |
0 |
3.5 |
5.6 |
6.3 |
6.6 |
缺陷像素 |
<0.03% |
||||
*大幀頻* [Hz] |
3000,4500**,9000** |
3000 |
750 |
238 |
133 |
計(jì)數(shù)器深度 [ bit ] |
12, 8, 4 |
12 |
12 |
12 |
12 |
讀出時(shí)間 |
連續(xù)讀數(shù),3μs死區(qū)時(shí)間,工作循環(huán)>99%*** |
||||
點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù) |
1 pixel |
||||
探測(cè)器厚度 [μm] |
450 |
||||
閾值能量 [keV] |
2.7-18 |
||||
*大計(jì)數(shù)率 [phts/s/mm2] |
5•108 |
||||
動(dòng)態(tài)范圍 [bit] |
16 或32 |
||||
數(shù)據(jù)格式 |
HDF5 / NeXus |
||||
尺寸(WHD)[mm3] |
114 x 92 x 242 |
114 x 133 x 240 |
235 x 237 x 372 |
340 x 370 x 500 |
400 x 430 x 500 |
重量 [kg] |
3.3 |
3.9 |
15 |
41 |
55 |
功耗 [w] |
70 |
75 |
300 |
750 |
1200 |
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