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維修美國(guó)ACCULOGIC測(cè)試儀

關(guān)鍵詞:美國(guó)ACCULOGIC,ACCULOGIC測(cè)試儀

日期:2020-06-27作者:未知
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美國(guó)ACCULOGIC測(cè)試儀/功能測(cè)試儀
 
ACCULOGIC公司建立在美國(guó),ACCULOGIC的測(cè)試儀有著優(yōu)良的品質(zhì)。ACCULOGIC的旗艦產(chǎn)品,在FLS900和SPRINT 4510飛行探針測(cè)試儀,ICT7000在電路測(cè)試儀和ScanNavigator邊界掃描測(cè)試套件,幫助確保明天的技術(shù),也沒有超過今天的測(cè)試能力。這些產(chǎn)品是**先進(jìn)的,可擴(kuò)展的解決方案,解決了廣泛的測(cè)試挑戰(zhàn),給客戶滿意的產(chǎn)品。
 
Acculogic公司設(shè)計(jì),制造和銷售范圍廣泛的系統(tǒng)和儀器,用于測(cè)試電子器件,電路板和系統(tǒng)。Acculogic提供短期周轉(zhuǎn)時(shí)間,高故障覆蓋率,快速循環(huán)時(shí)間的解決方案。 Acculogic的服務(wù)和產(chǎn)品是用來驗(yàn)證設(shè)計(jì),確保原型的完整性,改進(jìn)生產(chǎn)工藝和產(chǎn)量,并提供無缺陷的*終產(chǎn)品。 ABAKUS分析儀
 
  ACCULOGIC公司提供廣泛的制造測(cè)試應(yīng)用,包括汽車和軍用航空的商業(yè)功能測(cè)試系統(tǒng)。我們的解決方案是專為生產(chǎn)測(cè)試,優(yōu)化吞吐量,可靠性,可重復(fù)性和成本。功能測(cè)試系統(tǒng)配備了一個(gè)可擴(kuò)展的架構(gòu)和設(shè)計(jì),以滿足各種各樣的要求,如:高速模擬和數(shù)字功能測(cè)試·VXI,PXI和GPIB儀器;高速數(shù)字測(cè)試模式生成,采集,和分析; LabVIEW的LabWindows CVI,Visual C / C + +等;(IEEE1149.1 JTAG)邊界掃描測(cè)試整合;底板上的Flash和其它非易失性器件編程;在系統(tǒng)編程(ISP)的PLD,CPLD等**的交鑰匙夾具設(shè)計(jì)與集成服務(wù)。
 
主要產(chǎn)品:美國(guó)ACCULOGIC分析儀,ACCULOGIC測(cè)試儀,ACCULOGIC功能測(cè)試儀,ACCULOGIC編程器,ACCULOGIC掃描儀
 
 
FLS900™系列飛針測(cè)試儀,ICT7000™內(nèi)電路測(cè)試儀和ScanNavigator™邊界掃描測(cè)試套件,有助于確保未來的技術(shù)不超越今天的測(cè)試能力。 這些產(chǎn)品是高度發(fā)達(dá),用來解決范圍廣泛的測(cè)試挑戰(zhàn)可擴(kuò)展的解決方案。
Acculogic公司的系統(tǒng)是由以適應(yīng)各種應(yīng)用和客戶。 在我們的高性能測(cè)試系統(tǒng)的核心奠定抵制下一代的測(cè)試挑戰(zhàn)所需的技術(shù)。嚴(yán)格的質(zhì)量控制措施,產(chǎn)品上市時(shí)間的壓力一起令人信服制造企業(yè)選擇在其生產(chǎn)過程有效而精益測(cè)試和質(zhì)量保證策略。 飛針測(cè)試不需要測(cè)試夾具,對(duì)板連接數(shù)限制,可與幾乎無限數(shù)量的網(wǎng)絡(luò)測(cè)試板。 它們還允許開發(fā)人員來完成測(cè)試程序在很短的時(shí)間。 由于這些原因多,飛針測(cè)試儀已成為當(dāng)今電子制造業(yè)不可缺少的工具。新的和創(chuàng)新的設(shè)計(jì)特點(diǎn)應(yīng)用到提高測(cè)試速度,板通道,可靠性和可重復(fù)性,已開辟了部署Acculogic公司的FLS900系列測(cè)試儀的新的可能性。 作為**個(gè)獲得**的飛針測(cè)試用雙面測(cè)試和22可互換探頭模塊,F(xiàn)LS980Dxi是一路**在定義新的更精簡(jiǎn),更**的部署模型用于生產(chǎn)環(huán)境。
 
主要特點(diǎn):
全功能雙面系統(tǒng)
閉環(huán)的AccuFast™驅(qū)動(dòng)系統(tǒng),具有±0.1微米分辨率
可配置*多至22閉環(huán)飛針
可編程探頭角度6度到-6度度
豐富的電氣測(cè)試功能,包括模擬,數(shù)字,混合信號(hào)和邊界掃描以及先進(jìn)的光學(xué)和熱學(xué)檢查
上電和快進(jìn)功能測(cè)試(*高到GHz范圍內(nèi))
截至到128非復(fù)用的測(cè)試通道,通過固定的釘子
潛伏開路檢測(cè)
逆向工程
支持大板向上至41“×25.5”(1050 x640毫米)
 
  主要型號(hào):FLS980Dxi、FLS800、4510、Ict7000、ILS1000、Tracer 2000、PCI系列、PXI系列、VXI系列